基于杨氏双狭缝干涉条纹的线性位移测量装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410127089.1

申请日：

2024-01-30

公开(公告)号：

CN117968535A

公开(公告)日：

2024-05-03

发明(设计)人：

钟剑锋冯斌钟舜聪陈钰龙卢飞鸿刘东明池守疆

申请人：

福州大学

申请人地址：

350108 福建省福州市闽侯县福州大学城乌龙江北大道2号福州大学

IPC主分类号：

G01B11/02

IPC分类号：

G06T7/00 G06T7/73 G06T5/10

代理机构：

福州元创专利商标代理有限公司 35100

代理人：

郭东亮;蔡学俊

法律状态：

公开

国省代码：

福建省泉州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-03	公开	公开
2024-05-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/02申请日:20240130
2025-10-21	授权	授权

共 50 条

[1]

基于杨氏双狭缝干涉条纹的线性位移测量装置及方法 [P].

钟剑锋 ;

冯斌 ;

钟舜聪 ;

陈钰龙 ;

卢飞鸿 ;

刘东明 ;

池守疆 .

中国专利 :CN117968535B ,2025-10-21

[2]

基于激光干涉条纹的位移三角测量装置及方法 [P].

钟剑锋 ;

冯斌 ;

黄云华 ;

施羽涵 ;

钟舜聪 ;

刘东明 ;

叶爱丽 ;

苏正飞 .

中国专利 :CN119737867B ,2025-10-21

[3]

基于激光干涉条纹的位移三角测量装置及方法 [P].

钟剑锋 ;

冯斌 ;

黄云华 ;

施羽涵 ;

钟舜聪 ;

刘东明 ;

叶爱丽 ;

苏正飞 .

中国专利 :CN119737867A ,2025-04-01

[4]

基于绝对式复合条纹尺的大量程位移测量装置及方法 [P].

钟剑锋 ;

涂增仁 ;

钟舜聪 ;

卢飞鸿 ;

池守疆 ;

刘东明 .

中国专利 :CN118836775A ,2024-10-25

[5]

基于绝对式复合条纹尺的大量程位移测量装置及方法 [P].

钟剑锋 ;

涂增仁 ;

钟舜聪 ;

卢飞鸿 ;

池守疆 ;

刘东明 .

中国专利 :CN118836775B ,2025-10-14

[6]

基于干涉条纹的柱透镜形貌测量装置及方法 [P].

钟剑锋 ;

陈钰龙 ;

钟舜聪 ;

张秋坤 ;

钟建华 ;

冯斌 ;

刘东明 ;

郭昊洋 .

中国专利 :CN118729989A ,2024-10-01

[7]

基于光干涉的位移测量装置 [P].

林澎 ;

孙荣敏 ;

龙盛保 ;

胡江如 ;

韦家见 ;

陈水清 ;

唐丽媛 ;

李金丽 ;

林伟健 ;

龚英姬 .

中国专利 :CN105674888B ,2016-06-15

[8]

视觉扫描线性变密度条纹尺的大量程位移测量装置及方法 [P].

钟剑锋 ;

钟嘉杰 ;

钟舜聪 ;

池守疆 ;

梁伟 .

中国专利 :CN114453977A ,2022-05-10

[9]

基于自混合全息干涉的位移测量装置及方法 [P].

杨晓峰 ;

郝凌凌 ;

张志平 .

中国专利 :CN110132126A ,2019-08-16

[10]

基于巨磁电阻效应的位移测量装置及杨氏模量的测量方法 [P].

梁志强 ;

庄明伟 ;

韩立铭 .

中国专利 :CN103353274A ,2013-10-16

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