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一种光谱分析方法和装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910320361.7
申请日
:
2019-04-19
公开(公告)号
:
CN111830006B
公开(公告)日
:
2024-03-15
发明(设计)人
:
马丽
李久彤
周雪雷
郭畅
申请人
:
上海鑫谱生物科技有限公司
申请人地址
:
201318 上海市浦东新区紫萍路908弄16号4-5层
IPC主分类号
:
G01N21/65
IPC分类号
:
代理机构
:
上海一平知识产权代理有限公司 31266
代理人
:
徐迅;王正君
法律状态
:
授权
国省代码
:
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-03-15
授权
授权
共 50 条
[1]
一种光谱分析方法和装置
[P].
马丽
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马丽
;
李久彤
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李久彤
;
周雪雷
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周雪雷
;
郭畅
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郭畅
.
中国专利
:CN111830006A
,2020-10-27
[2]
一种光谱分析方法和装置
[P].
李久彤
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李久彤
;
周雪雷
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周雪雷
;
陈向军
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陈向军
;
关明
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关明
;
王晓梅
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王晓梅
;
孙世娇
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孙世娇
.
中国专利
:CN113358882A
,2021-09-07
[3]
光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法
[P].
林田纯弥
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
林田纯弥
;
柿下容弓
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
柿下容弓
;
服部英春
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
服部英春
;
堀入纯
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
堀入纯
.
日本专利
:CN120112781A
,2025-06-06
[4]
光谱分析装置和光谱分析方法
[P].
西村克美
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西村克美
.
中国专利
:CN107367469B
,2017-11-21
[5]
光谱分析装置和光谱分析方法
[P].
冯胜
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冯胜
.
中国专利
:CN115343227A
,2022-11-15
[6]
光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法
[P].
上野楠夫
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机构:
株式会社堀场制作所
株式会社堀场制作所
上野楠夫
;
村上达希
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机构:
株式会社堀场制作所
株式会社堀场制作所
村上达希
;
箕轮大辉
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机构:
株式会社堀场制作所
株式会社堀场制作所
箕轮大辉
.
日本专利
:CN121057932A
,2025-12-02
[7]
一种光谱分析系统和光谱分析方法
[P].
程嘉
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程嘉
;
邓龙虎
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邓龙虎
;
刘伟峰
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刘伟峰
;
季林红
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季林红
;
蒲以康
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蒲以康
.
中国专利
:CN106546330A
,2017-03-29
[8]
气体的光谱分析装置和光谱分析方法
[P].
森下淳一
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森下淳一
;
石原良夫
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石原良夫
;
吴尚谦
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吴尚谦
.
中国专利
:CN1258352A
,2000-06-28
[9]
光谱分析装置、光谱分析方法和存储介质
[P].
西村克美
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西村克美
;
中谷茂
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中谷茂
;
扬·波佩
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扬·波佩
.
中国专利
:CN109425583A
,2019-03-05
[10]
光谱分析方法
[P].
乌特·卡佩尔
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乌特·卡佩尔
.
中国专利
:CN101473201A
,2009-07-01
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