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测试探针

被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202330747769.X
申请日：
2023-11-15
公开(公告)号：
CN308636201S
公开(公告)日：
2024-05-14
发明(设计)人：
徐波 陈建明
申请人：
苏州萨沙迈半导体有限公司 上海萨沙迈半导体有限公司 天津智芯半导体科技有限公司 合肥智芯半导体有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市姑苏区锦堂街8号0600
IPC主分类号：
10-05
IPC分类号：
代理机构：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人：
孙璐璐
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-05-14 授权 授权
共 50 条
[1]
测试探针 [P]. 
徐波 ;
陈建明 .
中国专利 :CN308657336S ,2024-05-28
[2]
测试探针 [P]. 
刘海燕 .
中国专利 :CN307705019S ,2022-12-02
[3]
测试探针 [P]. 
徐波 ;
陈建明 .
中国专利 :CN308636202S ,2024-05-14
[4]
测试探针 [P]. 
蔡兴杰 .
中国专利 :CN308981361S ,2024-12-03
[5]
测试探针 [P]. 
中谷康祐 ;
由井孝欣 .
日本专利 :CN309574385S ,2025-10-31
[6]
测试探针 [P]. 
陈艳华 .
中国专利 :CN307818159S ,2023-01-31
[7]
测试探针头 [P]. 
白承夏 .
韩国专利 :CN309364265S ,2025-07-01
[8]
测试探针(二) [P]. 
吴俊杰 .
中国专利 :CN302422442S ,2013-05-01
[9]
测试探针头 [P]. 
白承夏 .
韩国专利 :CN309370168S ,2025-07-04
[10]
弹簧测试探针 [P]. 
袁勃然 .
中国专利 :CN306038998S ,2020-09-08
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