一种柱状电子元件表面检测装置及使用方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410148181.6

申请日：

2024-02-02

公开(公告)号：

CN117920611A

公开(公告)日：

2024-04-26

发明(设计)人：

陈晓华张广才王占山汪阳龚建平李贵霞

申请人：

苏州工业职业技术学院

申请人地址：

215128 江苏省苏州市吴中区苏州国际教育园致能大道1号

IPC主分类号：

B07C5/34

IPC分类号：

B07C5/36

代理机构：

常州正扬专利代理事务所(普通合伙) 32714

代理人：

侯利娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B07C 5/34申请日:20240202
2024-04-26	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电子元件检测装置及其使用方法 [P].

叶波 .

中国专利 :CN109212371A ,2019-01-15

[2]

一种电子元件检测装置及其使用方法 [P].

练韩奇 .

中国专利 :CN109174680A ,2019-01-11

[3]

一种电子元件检测装置 [P].

张雨铭威 ;

杨忠宇 ;

常译文 ;

霍玉旺 ;

袁海 .

中国专利 :CN206824211U ,2018-01-02

[4]

一种电子元件用检测装置及其使用方法 [P].

彭秀学 ;

饶云飞 ;

苗建峰 .

中国专利 :CN112731050A ,2021-04-30

[5]

一种电子元件用检测装置及其使用方法 [P].

彭秀学 ;

饶云飞 ;

苗建峰 .

中国专利 :CN112731050B ,2024-04-26

[6]

一种电子元件用检测装置及其使用方法 [P].

寇振业 .

中国专利 :CN114146938A ,2022-03-08

[7]

一种针对电子元件的检测装置及其使用方法 [P].

柯晓庆 ;

黎育明 .

中国专利 :CN113075536A ,2021-07-06

[8]

电子元件表面缺陷检测装置 [P].

金建德 .

中国专利 :CN208334214U ,2019-01-04

[9]

电子元件表面检测设备 [P].

丁万春 ;

范伟 .

中国专利 :CN206399849U ,2017-08-11

[10]

一种电子元件检测方法及检测装置 [P].

程如良 .

中国专利 :CN111412949B ,2020-07-14

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