对象尺寸检测系统及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311456379.2

申请日：

2023-11-01

公开(公告)号：

CN117490605A

公开(公告)日：

2024-02-02

发明(设计)人：

张登康陈浪涛龚玉朱中尉卢金桂力

申请人：

武汉中观自动化科技有限公司

申请人地址：

430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区关东街道关东工业园9号武汉鼎新工业园1号厂房1-2楼

IPC主分类号：

G01B11/245

IPC分类号：

G01B11/02

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

王思楠

法律状态：

公开

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-02	公开	公开
2024-02-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/245申请日:20231101

共 50 条

[1]

对象检测方法、对象检测装置及对象检测系统 [P].

祖春山 .

中国专利 :CN115605914A ,2023-01-13

[2]

尺寸检测方法及尺寸检测系统 [P].

杨朝宏 ;

胡兹晨 ;

马千凯 .

中国专利 :CN117589063A ,2024-02-23

[3]

尺寸检测方法及尺寸检测系统 [P].

郭敬 .

中国专利 :CN113218303A ,2021-08-06

[4]

尺寸检测方法及尺寸检测系统 [P].

杨朝宏 ;

胡兹晨 ;

马千凯 .

中国专利 :CN117589063B ,2024-05-14

[5]

对象检测系统及其对象检测方法 [P].

金炳秀 ;

高祥修 ;

河相赫 .

中国专利 :CN112508839A ,2021-03-16

[6]

对象检测装置、对象检测系统以及对象检测方法 [P].

中川庆 ;

北野伸 .

中国专利 :CN113615161A ,2021-11-05

[7]

对象检测装置、对象检测系统以及对象检测方法 [P].

中川庆 ;

北野伸 .

日本专利 :CN113615161B ,2025-02-25

[8]

对象检测的方法及对象检测系统 [P].

K·尚穆加瓦迪维尔 ;

P·A·沃福克 ;

Z·谢弗 ;

D·利沃夫 .

美国专利 :CN119229075A ,2024-12-31

[9]

一种工件尺寸检测系统及检测方法 [P].

李丹 ;

郭宜煌 ;

陈维 ;

郭经军 ;

徐小龙 .

中国专利 :CN111974711A ,2020-11-24

[10]

对象检测方法及装置、对象检测系统、介质、设备及产品 [P].

刘勇 ;

屈瑞麟 ;

王伟 .

中国专利 :CN115690794B ,2025-12-19

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