电池模组老化测试柜

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN202330260721.6

申请日：

2023-05-06

公开(公告)号：

CN308409469S

公开(公告)日：

2024-01-05

发明(设计)人：

郁俊

申请人：

武汉精能电子技术有限公司武汉精测电子集团股份有限公司

申请人地址：

430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号

IPC主分类号：

10-05

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-05	授权	授权

共 50 条

[1]

电池模组老化测试柜 [P].

郁俊 .

中国专利 :CN308409468S ,2024-01-05

[2]

电池模组老化测试柜 [P].

郁俊 .

中国专利 :CN308409470S ,2024-01-05

[3]

电池模组老化测试设备 [P].

薛海涛 ;

张威 ;

宋鹏功 ;

吕远远 ;

王尧 ;

朱倍倍 ;

郭小玲 ;

樊崇 .

中国专利 :CN220584371U ,2024-03-12

[4]

电池模组老化柜 [P].

许开华 ;

宋琦 ;

张宇平 ;

李智专 .

中国专利 :CN209119239U ,2019-07-16

[5]

电池模组测试柜 [P].

邱佛长 .

中国专利 :CN308616510S ,2024-05-03

[6]

老化测试柜 [P].

梁远文 ;

陈长安 .

中国专利 :CN307643892S ,2022-11-08

[7]

电源老化测试柜 [P].

石利军 ;

林进勇 .

中国专利 :CN305412009S ,2019-11-01

[8]

电源老化测试柜 [P].

石利军 .

中国专利 :CN306215840S ,2020-12-08

[9]

非标老化测试柜 [P].

梁远文 ;

陈长安 .

中国专利 :CN308518664S ,2024-03-19

[10]

液晶模组老化测试架 [P].

丁小刚 .

中国专利 :CN304819554S ,2018-09-18

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