X射线检测器、用于操作X射线检测器的方法以及包括X射线检测器的X射线成像装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280069922.0

申请日：

2022-10-11

公开(公告)号：

CN118119862A

公开(公告)日：

2024-05-31

发明(设计)人：

柳在彦

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国京畿道水原市

IPC主分类号：

G01T1/161

IPC分类号：

G01T1/20 A61B6/42

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

刘超;曾世骁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-31	公开	公开
2024-06-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01T 1/161申请日:20221011

共 50 条

[1]

X射线检测器、X射线成像设备 [P].

成映勋 ;

李载学 ;

姜东求 ;

李在穆 .

中国专利 :CN104665855B ,2015-06-03

[2]

X射线检测器和具有该检测器的X射线成像装置 [P].

金廷珉 ;

朴勋 ;

成镒 ;

李佑诚 .

中国专利 :CN106361360A ,2017-02-01

[3]

X射线检测器 [P].

J·K·E·科迪治 ;

P·J·霍恩 .

中国专利 :CN1161103A ,1997-10-01

[4]

X射线检测器 [P].

田边晃一 ;

古井真悟 ;

吉牟田利典 ;

木村健士 ;

西村晓弘 ;

白井太郎 ;

土岐贵弘 ;

佐野哲 ;

堀场日明 ;

佐藤敏幸 .

中国专利 :CN107407735A ,2017-11-28

[5]

X射线检测器的框架和X射线检测器 [P].

陈涛 .

中国专利 :CN202776332U ,2013-03-13

[6]

X射线检测器的框架和X射线检测器 [P].

陈涛 .

中国专利 :CN103371839A ,2013-10-30

[7]

X射线CT装置、X射线检测器及X射线检测器的配置方法 [P].

佐久田茂 .

中国专利 :CN1936557B ,2007-03-28

[8]

X射线检测器、X射线CT装置、X射线检测方法以及X射线检测程序 [P].

昆野康隆 .

中国专利 :CN108601574A ,2018-09-28

[9]

X射线检测器及X射线检测器的制造方法 [P].

本间克久 ;

会田博之 ;

伊藤健一 ;

藤泽晶子 ;

鬼桥浩志 .

中国专利 :CN100335914C ,2005-06-15

[10]

X射线检测器 [P].

朴钟曙 ;

李雄 .

中国专利 :CN110464372A ,2019-11-19

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