MCIO接口测试治具及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311645327.X

申请日：

2023-12-04

公开(公告)号：

CN117648225A

公开(公告)日：

2024-03-05

发明(设计)人：

韦彪张绮文吕丞陶俊中梁国丽

申请人：

深圳市研祥电子软件有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中四道31号研祥科技大厦20楼B7.B8-1

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/26

代理机构：

深圳市精英专利事务所 44242

代理人：

丁宇龙

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-28	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):G06F 11/22变更事项:申请人变更前:深圳市研祥电子软件有限公司变更后:深圳市研祥物联科技有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中四道31号研祥科技大厦20楼B7.B8-1变更后:518000 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中四道31号研祥科技大厦20楼B7.B8-1
2024-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20231204
2024-03-05	公开	公开

共 50 条

[1]

MCIO连接器的测试治具 [P].

陈麒旭 ;

蔡智伟 ;

郭仁杰 .

:CN223051503U ,2025-07-01

[2]

COM接口测试治具 [P].

严俊钦 ;

程匹克 .

中国专利 :CN217484422U ,2022-09-23

[3]

多接口测试治具 [P].

杨永元 ;

李育 ;

叶孟力 ;

沈寿明 .

中国专利 :CN211979115U ,2020-11-20

[4]

SAS接口测试治具 [P].

赵泓 ;

黄正宗 ;

何瑞雄 ;

苏旺丁 ;

黄柏凯 .

中国专利 :CN102331962A ,2012-01-25

[5]

测试治具 [P].

张浩 .

中国专利 :CN103969570A ,2014-08-06

[6]

I/O接口测试治具 [P].

周伟 .

中国专利 :CN110618907B ,2019-12-27

[7]

LCD屏测试治具及其测试方法 [P].

乔伟雄 ;

郭斌 ;

饶纯 .

中国专利 :CN102004337A ,2011-04-06

[8]

测试治具及测试系统 [P].

孟雨晴 ;

郑巧瑜 .

中国专利 :CN118748568A ,2024-10-08

[9]

测试治具及测试方法 [P].

许明杰 ;

吴天森 ;

王平安 .

中国专利 :CN112924845A ,2021-06-08

[10]

测试治具和测试方法 [P].

郭建超 ;

赵胜 .

中国专利 :CN120523673A ,2025-08-22

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