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基于矢量偏振光束的差分暗场共焦显微测量装置与方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202310247164.3
申请日：
2023-03-15
公开(公告)号：
CN116577334B
公开(公告)日：
2024-05-17
发明(设计)人：
刘俭 刘辰光 邹重亮 华子杰
申请人：
哈尔滨工业大学
申请人地址：
150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
IPC主分类号：
G01N21/88
IPC分类号：
G01N21/01 G02B21/00
代理机构：
哈尔滨奥博专利代理事务所(普通合伙) 23220
代理人：
马秋云
法律状态：
授权
国省代码：
山东省 威海市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-05-17 授权 授权
2024-12-13 专利申请权、专利权的转移 专利权的转移IPC(主分类):G01N 21/88登记生效日:20241127变更事项:专利权人变更前权利人:哈尔滨工业大学变更后权利人:江苏锐精光电研究院有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更后权利人:211316 江苏省南京市高淳区经济开发区沧溪路55号
共 50 条
[1]
基于矢量偏振光的深度学习暗场共焦显微测量装置与方法 [P]. 
刘辰光 ;
华子杰 ;
刘俭 ;
陈刚 .
中国专利 :CN113984771A ,2022-01-28
[2]
基于差分分数阶涡旋光束的暗场共焦显微测量装置与方法 [P]. 
刘俭 ;
刘辰光 ;
华子杰 ;
谷康 .
中国专利 :CN118914204A ,2024-11-08
[3]
基于差分分数阶涡旋光束的暗场共焦显微测量装置与方法 [P]. 
刘俭 ;
刘辰光 ;
华子杰 ;
谷康 .
中国专利 :CN118914204B ,2025-05-23
[4]
基于螺旋谱提取的暗场共焦显微测量装置与方法 [P]. 
刘俭 ;
刘辰光 ;
华子杰 .
中国专利 :CN116297486B ,2025-07-25
[5]
基于光纤环形光束的暗场共焦布里渊显微测量装置与方法 [P]. 
刘俭 ;
华子杰 ;
刘辰光 ;
陈刚 .
中国专利 :CN113916891A ,2022-01-11
[6]
基于偏振自相关的暗场共焦显微测量装置和方法 [P]. 
刘辰光 ;
刘俭 ;
陈刚 .
中国专利 :CN111257226A ,2020-06-09
[7]
基于偏振自相关的暗场共焦显微测量装置和方法 [P]. 
刘辰光 ;
刘俭 ;
陈刚 .
中国专利 :CN111257227B ,2020-06-09
[8]
基于涡旋干涉的暗场共焦显微测量装置 [P]. 
刘俭 ;
刘辰光 ;
华子杰 ;
由小玉 .
中国专利 :CN118914199A ,2024-11-08
[9]
基于涡旋干涉的暗场共焦显微测量装置 [P]. 
刘俭 ;
刘辰光 ;
华子杰 ;
由小玉 .
中国专利 :CN118914199B ,2025-09-16
[10]
基于涡旋二向色性的暗场共焦显微测量装置与方法 [P]. 
刘俭 ;
刘辰光 ;
华子杰 .
中国专利 :CN116482107B ,2024-09-10
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