光源及自动分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280040734.5

申请日：

2022-06-15

公开(公告)号：

CN117425817A

公开(公告)日：

2024-01-19

发明(设计)人：

安藤贵洋气田康宏松冈裕哉有田昌平

申请人：

株式会社日立高新技术

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

H01L33/48 G01N35/00 G01N21/59

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;范胜杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20220615
2024-01-19	公开	公开

共 50 条

[1]

自动分析装置及自动分析装置的光源稳定化方法 [P].

深谷昌史 ;

高桥拓也 ;

窟川大空 ;

福村真实 .

日本专利 :CN119744347A ,2025-04-01

[2]

自动分析装置及分析方法 [P].

与仪刚史 ;

足立作一郎 ;

三村智宪 ;

山崎创 .

中国专利 :CN103765198B ,2014-04-30

[3]

清洗装置及自动分析装置 [P].

鹤田博士 .

中国专利 :CN101632025A ,2010-01-20

[4]

洗净装置及自动分析装置 [P].

加藤幸 .

中国专利 :CN101449168A ,2009-06-03

[5]

自动分析装置及检体分析方法 [P].

梅野直人 ;

稻边利幸 ;

加吕光 ;

三枝高志 .

日本专利 :CN120344858A ,2025-07-18

[6]

自动分析装置及自动分析方法 [P].

伊藤匠 ;

东信二 ;

深谷昌史 .

中国专利 :CN110036296A ,2019-07-19

[7]

自动分析装置及自动分析方法 [P].

约翰·李 .

中国专利 :CN104345158A ,2015-02-11

[8]

自动分析装置及自动分析方法 [P].

江口纱央里 ;

高仓树 ;

梅木博也 ;

安力川真美 .

日本专利 :CN120752537A ,2025-10-03

[9]

自动分析装置 [P].

舟越砂穗 ;

大草武德 ;

矶岛宣之 ;

横山洸几 .

日本专利 :CN120641757A ,2025-09-12

[10]

自动分析装置 [P].

渡部道治 ;

佐佐木重幸 ;

大草武德 ;

矶岛宣之 .

中国专利 :CN109073666A ,2018-12-21

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