硬件在环测试方法、测试系统、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211216743.3

申请日：

2022-09-30

公开(公告)号：

CN117852237A

公开(公告)日：

2024-04-09

发明(设计)人：

全海强陈熠王晓

申请人：

加特兰微电子科技（上海）有限公司

申请人地址：

201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区盛夏路666号E栋901室

IPC主分类号：

G06F30/20

IPC分类号：

G06F11/36

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/20申请日:20220930
2024-04-09	公开	公开

共 50 条

[1]

硬件在环测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

周健 ;

陈涛 ;

张琰 ;

方朕 ;

张政 ;

周腾飞 ;

文博 ;

罗领 .

中国专利 :CN118192509A ,2024-06-14

[2]

硬件在环测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

李朋 .

中国专利 :CN117827555A ,2024-04-05

[3]

硬件在环测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

吴坚 ;

王代涵 ;

李朋 .

中国专利 :CN117827555B ,2025-02-25

[4]

发动机硬件在环测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王贲 ;

危亮 ;

汪文强 ;

郭华锋 ;

廖善彬 ;

程苏祺 ;

周憧 ;

张健 .

中国专利 :CN115373364A ,2022-11-22

[5]

基于硬件在环测试系统的测试方法、系统及存储介质 [P].

杜利民 ;

崔毅 ;

杜军 .

中国专利 :CN121144129A ,2025-12-16

[6]

硬件在环仿真测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

赵德银 ;

高艳 ;

李治民 ;

王伟东 ;

秦诚 ;

贾慧忠 ;

张东波 ;

周时莹 ;

庞萌萌 .

中国专利 :CN118838193A ,2024-10-25

[7]

硬件在环测试系统及硬件在环测试方法 [P].

柳超 .

中国专利 :CN117806274A ,2024-04-02

[8]

硬件在环测试系统及硬件在环测试方法 [P].

柳超 .

中国专利 :CN117806274B ,2025-02-18

[9]

LKS系统硬件在环测试标定方法、系统、存储介质及设备 [P].

贾和平 ;

黄少堂 ;

彭玲 .

中国专利 :CN114964803B ,2025-04-22

[10]

硬件在环测试方法、测试装置、测试系统和可读存储介质 [P].

黄礼 ;

钟日敏 ;

邵杰 ;

杨一琴 ;

陈显福 .

中国专利 :CN113589787A ,2021-11-02

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