一种内存性能测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311862670.X

申请日：

2023-12-29

公开(公告)号：

CN117806932A

公开(公告)日：

2024-04-02

发明(设计)人：

孙崇雨高磊陈翔

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215100 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

IPC主分类号：

G06F11/34

IPC分类号：

G06F11/24

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

梁笑

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-02	公开	公开
2024-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/34申请日:20231229

共 50 条

[1]

性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

蒋政胜 .

中国专利 :CN120950375A ,2025-11-14

[2]

一种性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

常国栋 .

中国专利 :CN115480970A ,2022-12-16

[3]

性能测试方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

李芳 ;

黄小民 ;

邱广 ;

曾平 .

中国专利 :CN118093353A ,2024-05-28

[4]

性能测试方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

赵英杰 ;

申志敏 ;

陈琳 ;

庄双林 ;

杨贵生 ;

熊潇 .

中国专利 :CN118796630A ,2024-10-18

[5]

性能测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

张恒伟 ;

马俊娇 ;

韩毅 ;

戚明霞 ;

计文著 ;

张志辉 ;

邱畅畅 ;

苏俊方 ;

杨金杰 ;

金泽选 .

中国专利 :CN119292925A ,2025-01-10

[6]

性能测试方法、装置、设备以及存储介质 [P].

吴亚鹏 .

中国专利 :CN121187951A ,2025-12-23

[7]

系统性能测试方法及装置、设备及存储介质 [P].

徐晓 .

中国专利 :CN112749067B ,2024-06-18

[8]

系统性能测试方法及装置、设备及存储介质 [P].

徐晓 .

中国专利 :CN112749067A ,2021-05-04

[9]

虚拟场景的性能测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

杨帆 .

中国专利 :CN118491097A ,2024-08-16

[10]

一种内存条测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

王栋 ;

赵乐森 .

中国专利 :CN119166435A ,2024-12-20

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