偏振同轴照明激光剪切散斑干涉测量系统及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111314941.9

申请日：

2021-11-08

公开(公告)号：

CN114136976B

公开(公告)日：

2024-04-26

发明(设计)人：

李杰巴荣声周信达徐兆锐郑垠波丁磊柴立群许乔徐宏磊那进

申请人：

中国工程物理研究院激光聚变研究中心

申请人地址：

621900 四川省绵阳市绵山路64号

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/01 G01B11/16

代理机构：

上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317

代理人：

张宁展

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-26	授权	授权

共 50 条

[1]

偏振同轴照明激光剪切散斑干涉测量系统及其测量方法 [P].

李杰 ;

巴荣声 ;

周信达 ;

徐兆锐 ;

郑垠波 ;

丁磊 ;

柴立群 ;

许乔 ;

徐宏磊 ;

那进 .

中国专利 :CN114136976A ,2022-03-04

[2]

散斑干涉与剪切散斑干涉的测量系统及测量方法 [P].

王永红 ;

赵琪涵 ;

陈维杰 ;

孙方圆 ;

钟诗民 .

中国专利 :CN110108223B ,2019-08-09

[3]

单狭缝空间载波剪切散斑干涉测量系统及测量方法 [P].

王永红 ;

冯家亚 ;

王鑫 ;

刘莹雪 ;

杨连祥 .

中国专利 :CN104482875B ,2015-04-01

[4]

一种双波段激光剪切散斑干涉测量系统及测量方法 [P].

李杰 ;

柴立群 ;

赵宗清 ;

巴荣声 ;

姜宏振 ;

闫佩正 ;

周信达 ;

石振东 ;

李政豪 .

中国专利 :CN120971422A ,2025-11-18

[5]

基于空间载波的双方向剪切散斑干涉系统及测量方法 [P].

王永红 ;

高新亚 ;

谢辛 ;

王鑫 ;

刘莹雪 ;

杨连祥 .

中国专利 :CN105136806B ,2015-12-09

[6]

数字剪切散斑干涉的实时测量方法和系统 [P].

高瞻 ;

张小琼 ;

秦洁 .

中国专利 :CN105371778A ,2016-03-02

[7]

激光散斑干涉测量方法及装置 [P].

王希军 .

中国专利 :CN1696661A ,2005-11-16

[8]

一种长基线激光干涉测量系统及其测量方法 [P].

彭峰 ;

赵际帅 ;

吴冰 ;

崔晓军 ;

张国煜 .

中国专利 :CN117270031B ,2024-04-05

[9]

干涉测量系统以及干涉测量方法 [P].

符建 ;

刘旭 ;

匡翠方 ;

丁志华 .

中国专利 :CN120489354A ,2025-08-15

[10]

干涉测量方法和干涉测量系统 [P].

B·多班德 .

德国专利 :CN117685872A ,2024-03-12

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