一种用于老化试验的通电测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321968125.4

申请日：

2023-07-25

公开(公告)号：

CN220509055U

公开(公告)日：

2024-02-20

发明(设计)人：

张吉伦纪凡涛

申请人：

苏州金钥匙测试系统有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区葑亭大道395号3号楼东

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/02

代理机构：

北京环泰睿辰专利代理有限公司 37322

代理人：

陈燕

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于老化测试的治具 [P].

罗成 ;

刘坚辉 .

中国专利 :CN206684190U ,2017-11-28

[2]

一种老化测试治具 [P].

罗成 ;

刘坚辉 .

中国专利 :CN206684189U ,2017-11-28

[3]

电子产品批量通电测试和老化试验平台 [P].

陈林燚 .

中国专利 :CN204855680U ,2015-12-09

[4]

灯板老化试验测试治具及灯板测试装置 [P].

王丙峰 ;

毛雪刚 ;

许兵兵 .

中国专利 :CN217787341U ,2022-11-11

[5]

通电测试治具 [P].

刘加纳 ;

罗亮 .

中国专利 :CN211955268U ,2020-11-17

[6]

一种通电测试治具 [P].

邓爱军 .

中国专利 :CN206248780U ,2017-06-13

[7]

一种微细探针通电测试治具 [P].

苏军梅 .

中国专利 :CN208953655U ,2019-06-07

[8]

一种用于电子喇叭通电测试的治具 [P].

马雪芬 .

中国专利 :CN210725336U ,2020-06-09

[9]

一种基于热老化试验的老化试验箱 [P].

许占文 ;

邱军 ;

孙力勇 ;

樊庆东 ;

张辰 ;

崔玉新 ;

徐玉红 ;

张璐 ;

曹岳铮 .

中国专利 :CN215448925U ,2022-01-07

[10]

一种芯片老化试验测试设备 [P].

刘高鑫 ;

丁苗富 .

中国专利 :CN221707659U ,2024-09-13

← 1 2 3 4 5 →