硬盘性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110266499.0

申请日：

2021-03-11

公开(公告)号：

CN113035266B

公开(公告)日：

2024-05-14

发明(设计)人：

张迎华辛云龙蒲嘉鹏王天春王宇轩王瑞

申请人：

曙光信息产业（北京）有限公司

申请人地址：

100089 北京市海淀区东北旺西路8号院36号楼

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

景怀宇

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-14	授权	授权

共 50 条

[1]

硬盘性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张迎华 ;

辛云龙 ;

蒲嘉鹏 ;

王天春 ;

王宇轩 ;

王瑞 .

中国专利 :CN113035266A ,2021-06-25

[2]

性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

杨丽怡 .

中国专利 :CN114625621A ,2022-06-14

[3]

接口性能测试方法、装置、存储介质和计算机设备 [P].

李阳 .

中国专利 :CN107832207A ,2018-03-23

[4]

设备性能测试方法、系统、计算机设备和存储介质 [P].

金戈 .

中国专利 :CN108632110B ,2018-10-09

[5]

性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王自挺 .

中国专利 :CN109583688A ,2019-04-05

[6]

性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

周平平 ;

高峰 .

中国专利 :CN113849402A ,2021-12-28

[7]

性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

马文能 ;

陈桓 ;

张良杰 .

中国专利 :CN109753418B ,2019-05-14

[8]

性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李元磊 ;

秦晓宁 ;

陈颖 .

中国专利 :CN118363805A ,2024-07-19

[9]

性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

陈晰亮 .

中国专利 :CN108415847A ,2018-08-17

[10]

设备性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

彭晨 ;

田军 ;

何卓彪 .

中国专利 :CN118112338A ,2024-05-31

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