一种高频基板的可靠性评估方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110494242.0

申请日：

2021-05-07

公开(公告)号：

CN113299355B

公开(公告)日：

2024-05-24

发明(设计)人：

宁敏洁杨施政蒋攀攀何骁倪毅强赵振博戴宗倍

申请人：

中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

申请人地址：

511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G16C60/00

IPC分类号：

G01D21/02 H01L21/66

代理机构：

北京市隆安律师事务所 11323

代理人：

付建军

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种高频基板的可靠性评估方法 [P].

宁敏洁 ;

杨施政 ;

蒋攀攀 ;

何骁 ;

倪毅强 ;

赵振博 ;

戴宗倍 .

中国专利 :CN113299355A ,2021-08-24

[2]

一种高频基板在热氧老化过程中的退化特性表征方法 [P].

戴宗倍 ;

宁敏洁 ;

蒋攀攀 ;

李星星 ;

沈江华 ;

何骁 .

中国专利 :CN113281580B ,2021-08-20

[3]

一种基于时空可靠性的网络节点可靠性评估方法 [P].

廖丽平 ;

归郑慧 ;

蔡君 ;

黄忠炜 .

中国专利 :CN120110956A ,2025-06-06

[4]

MEMS可靠性评估方法 [P].

任艳 .

中国专利 :CN104915558B ,2015-09-16

[5]

一种仪器的可靠性评估方法 [P].

王红涛 ;

刘意 ;

蔡集坚 ;

张巧玲 ;

高军 .

中国专利 :CN110531186A ,2019-12-03

[6]

一种资产可靠性评估方法 [P].

廖志强 ;

张文化 .

中国专利 :CN115358571A ,2022-11-18

[7]

一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备 [P].

南海卿 ;

张晓强 .

中国专利 :CN113962175A ,2022-01-21

[8]

一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备 [P].

南海卿 ;

张晓强 .

中国专利 :CN113962175B ,2025-07-22

[9]

介质层可靠性评估方法和评估介质层可靠性的测试系统 [P].

胡健 ;

唐伟 ;

石晓 ;

熊阳 .

中国专利 :CN116482215B ,2025-07-04

[10]

一种压电陀螺的可靠性评估方法 [P].

张增照 .

中国专利 :CN1851409A ,2006-10-25

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