设备树参数调试方法和装置、电子设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410008539.5
申请日
2024-01-03
公开(公告)号
CN118012513A
公开(公告)日
2024-05-10
发明(设计)人
周为新
申请人
瑞芯微电子股份有限公司
申请人地址
350000 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼
IPC主分类号
G06F9/4401
IPC分类号
G06F11/14
代理机构
福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214
代理人
石晋龙
法律状态
实质审查的生效
国省代码
福建省 福州市
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共 50 条
[1]
设备树参数调试方法和装置、电子设备和存储介质 [P]. 
周为新 .
中国专利 :CN118012514A ,2024-05-10
[2]
行为树调试方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
李巍巍 .
中国专利 :CN119396694A ,2025-02-07
[3]
调试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
王家宇 .
中国专利 :CN111309543A ,2020-06-19
[4]
画质参数调试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王天乐 ;
蒋楠 .
中国专利 :CN119835518A ,2025-04-15
[5]
参数处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王光域 .
中国专利 :CN115309328A ,2022-11-08
[6]
BIOS参数调试方法、程序产品、电子设备和存储介质 [P]. 
刘小雪 ;
程建军 ;
赵静 .
中国专利 :CN120029871B ,2025-08-22
[7]
BIOS参数调试方法、程序产品、电子设备和存储介质 [P]. 
刘小雪 ;
程建军 ;
赵静 .
中国专利 :CN120029871A ,2025-05-23
[8]
调试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
陈亦鹏 .
中国专利 :CN114741244A ,2022-07-12
[9]
程序调试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
卢垚松 ;
马清川 ;
陈湃卓 .
中国专利 :CN119883866A ,2025-04-25
[10]
仿真调试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
吴博 ;
张世亮 ;
李博超 .
中国专利 :CN120086115A ,2025-06-03