张量计算核的功耗测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311686516.1

申请日：

2023-12-08

公开(公告)号：

CN117632613A

公开(公告)日：

2024-03-01

发明(设计)人：

请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名

申请人：

上海壁仞科技股份有限公司

申请人地址：

201114 上海市闵行区陈行公路2388号16幢13层1302室

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

许爱春

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-01	公开	公开
2024-03-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20231208

共 50 条

[1]

张量计算加速方法、装置及电子设备 [P].

李乐乐 ;

于帆 ;

王雄儒 ;

颜佳宁 .

中国专利 :CN120614395A ,2025-09-09

[2]

张量计算方法、电子设备、存储介质及产品 [P].

李柏宏 ;

吴韶华 .

中国专利 :CN120066751A ,2025-05-30

[3]

张量计算方法、电子设备、存储介质及产品 [P].

李柏宏 ;

吴韶华 .

中国专利 :CN120066751B ,2025-07-18

[4]

张量计算核心验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118395913A ,2024-07-26

[5]

张量计算方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN121167099A ,2025-12-19

[6]

稀疏张量计算方法、装置、设备及存储介质 [P].

李翔 .

中国专利 :CN109857744B ,2019-06-07

[7]

张量计算装置、数据处理器、张量计算方法、存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114741650A ,2022-07-12

[8]

张量计算装置、数据处理器、张量计算方法、存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN114741650B ,2025-12-23

[9]

张量计算代码优化方法、装置、设备及介质 [P].

梁云 ;

郑思泽 .

中国专利 :CN110968321A ,2020-04-07

[10]

功耗测试电路、功耗测试方法、电子设备及存储介质 [P].

任卫坤 ;

钟光华 ;

熊强 .

中国专利 :CN117590063B ,2024-06-04

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