数控系统测试接口、装置及数控系统测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311427242.4
申请日
2023-10-31
公开(公告)号
CN117539219A
公开(公告)日
2024-02-09
发明(设计)人
李健 汤明俊 柴佳镔 程诚 许竞博
申请人
武汉华中数控股份有限公司
申请人地址
430223 湖北省武汉市东湖新技术开发区庙山小区华中科技大学科技园
IPC主分类号
G05B23/02
IPC分类号
代理机构
北京汇泽知识产权代理有限公司 11228
代理人
吴慧珺
法律状态
公开
国省代码
湖北省 武汉市
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共 50 条
[1]
数控系统操作键盘及数控系统 [P]. 
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黄祥钧 .
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[3]
数控系统的速度预测、数控系统的控制方法及数控系统 [P]. 
邓应波 ;
黄祥钧 .
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[4]
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[6]
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[7]
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[9]
数控装置及数控系统 [P]. 
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[10]
数控系统通信接口、数控系统及数据接收方法 [P]. 
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殷哲波 ;
陈吉红 ;
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