深度相机测试方法、系统及计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410084556.7
申请日
2024-01-19
公开(公告)号
CN118101922A
公开(公告)日
2024-05-28
发明(设计)人
余旭根 马向虎 付一鸣 贾欣欣 杨国庆
申请人
奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区高新北一道88号奥比科技大厦2001
IPC主分类号
H04N17/00
IPC分类号
代理机构
深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312
代理人
赵胜宝
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
测试方法、测试系统及计算机可读存储介质 [P]. 
丁晓峰 ;
王超 .
中国专利 :CN110233779B ,2019-09-13
[2]
测试系统、测试方法及计算机可读存储介质 [P]. 
丁敏 ;
邹爱华 ;
张萍 ;
丁涛 .
中国专利 :CN118157778A ,2024-06-07
[3]
测试系统、测试方法及计算机可读存储介质 [P]. 
衣存宇 ;
洪申平 ;
沙宏磊 ;
沈虹 ;
韩景超 ;
刘万虎 ;
李凯 ;
魏靖 ;
董丽佳 .
中国专利 :CN112240944A ,2021-01-19
[4]
画质测试方法、测试系统及计算机可读存储介质 [P]. 
宋嘉龙 ;
王艳雪 ;
肖洲 ;
肖道粲 ;
丁崇彬 .
中国专利 :CN121148265A ,2025-12-16
[5]
终端测试方法、测试系统及计算机可读存储介质 [P]. 
赵超卫 .
中国专利 :CN114328251A ,2022-04-12
[6]
检测方法、装置、深度相机及计算机可读存储介质 [P]. 
徐振宾 .
中国专利 :CN110602486B ,2019-12-20
[7]
测试方法、系统、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
龙书成 ;
叶翔 ;
付玉乐 ;
李智 .
中国专利 :CN112665867A ,2021-04-16
[8]
烧录测试方法、系统及计算机可读存储介质 [P]. 
温坚 .
中国专利 :CN111679942A ,2020-09-18
[9]
内存测试方法、系统及计算机可读存储介质 [P]. 
刘石柱 ;
曾祥卫 .
中国专利 :CN115841842B ,2024-05-14
[10]
老化测试方法、系统及计算机可读存储介质 [P]. 
杨名业 .
中国专利 :CN118731542A ,2024-10-01