一种探测器性能测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311457293.1

申请日：

2023-11-03

公开(公告)号：

CN117309025B

公开(公告)日：

2024-05-28

发明(设计)人：

郑斌李日金

申请人：

湖南迈克森伟电子科技有限公司

申请人地址：

410000 湖南省长沙市高新开发区麓天路12号408室

IPC主分类号：

G01D18/00

IPC分类号：

G01D21/02 G01R1/04

代理机构：

湖南正则奇美专利代理事务所(普通合伙) 43105

代理人：

黄韬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01D 18/00申请日:20231103
2024-05-28	授权	授权

共 50 条

[1]

一种中子探测器性能测试系统 [P].

郭辉 ;

张晨旭 ;

张玉明 ;

王雨田 ;

黄海栗 .

中国专利 :CN208026877U ,2018-10-30

[2]

平板探测器测试系统和平板探测器测试方法 [P].

刘洁清 ;

栾干 .

中国专利 :CN107432748A ,2017-12-05

[3]

一种红外探测器测试系统 [P].

戴亚明 ;

郭志华 ;

周迎春 ;

陈小宁 .

中国专利 :CN202149810U ,2012-02-22

[4]

TDI探测器的高光溢出性能测试系统及测试方法 [P].

余达 ;

刘金国 ;

梅贵 ;

薛旭成 ;

石俊霞 ;

齐洪宇 ;

张立华 .

中国专利 :CN110536131B ,2019-12-03

[5]

探测器电阻测试系统 [P].

李文刚 .

中国专利 :CN206583973U ,2017-10-24

[6]

单光子探测器性能测试方法和装置 [P].

陆健婷 ;

柳月波 ;

赖灿雄 ;

廖文渊 ;

李树旺 ;

路国光 .

中国专利 :CN120043631A ,2025-05-27

[7]

一种光学火焰探测器性能参数智能测试系统 [P].

余盛明 ;

曾聪 ;

梅占涛 ;

康美苓 ;

吴景棋 ;

王春林 ;

杨显辉 ;

兰先金 ;

杨德志 ;

向柯 .

中国专利 :CN217953694U ,2022-12-02

[8]

一种探测器高温稳定测试系统 [P].

梁丙生 ;

刘镇岭 ;

王剑斌 ;

廖燕锋 .

中国专利 :CN120971869A ,2025-11-18

[9]

一种连续波探测器测试系统 [P].

崔恒荣 ;

王伟 ;

孙芸 ;

朱浩 ;

孙晓玮 .

中国专利 :CN104199019A ,2014-12-10

[10]

一种辐射探测器性能测试工装系统 [P].

石磊 ;

侯文斌 ;

张建峰 .

中国专利 :CN208795847U ,2019-04-26

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