内存错误检测方法、装置、设备及介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410006515.6
申请日
2024-01-02
公开(公告)号
CN117785540A
公开(公告)日
2024-03-29
发明(设计)人
王晓磊 张斌 冯超 李瑞林
申请人
中国人民解放军国防科技大学
申请人地址
410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号
IPC主分类号
G06F11/07
IPC分类号
G06F9/50 G06F8/41
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
侯珊
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种内存错误检测方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
褚安康 ;
苏振宇 .
中国专利 :CN120029881B ,2025-11-18
[2]
一种内存错误检测方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
褚安康 ;
苏振宇 .
中国专利 :CN120029881A ,2025-05-23
[3]
内存错误的检测方法、装置、电子设备、存储介质及车辆 [P]. 
张鸣雷 .
中国专利 :CN118445123A ,2024-08-06
[4]
内存错误检测方法、设备及存储介质 [P]. 
马德威 .
中国专利 :CN117389831A ,2024-01-12
[5]
操作系统的内存错误检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
马晓松 ;
缪懋 ;
史磊 ;
杜海 .
中国专利 :CN119938378A ,2025-05-06
[6]
应用内存错误检测方法、检测装置及存储介质 [P]. 
罗鑫 .
中国专利 :CN109150642B ,2019-01-04
[7]
内存检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邓竹立 .
中国专利 :CN117992204A ,2024-05-07
[8]
内存错误处理方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王志杰 .
中国专利 :CN120492196A ,2025-08-15
[9]
应用内存错误检测方法、装置及存储介质 [P]. 
赵俊民 ;
余亮 ;
陆尚烨 .
中国专利 :CN116450474B ,2025-08-22
[10]
内存溢出检测方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
刘健 ;
杨艳光 ;
刘刚 ;
张同虎 .
中国专利 :CN118838816A ,2024-10-25