一种双信号可替换测试探针的测试夹具、刀片测试探针及测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410400104.5

申请日：

2024-04-03

公开(公告)号：

CN118091217A

公开(公告)日：

2024-05-28

发明(设计)人：

刘东张海洋吕文波

申请人：

苏州伊欧陆系统集成有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城中北区23幢

IPC主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/073

代理机构：

苏州佳捷天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 32516

代理人：

魏孝廉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/067申请日:20240403
2024-05-28	公开	公开

共 50 条

[1]

一种双信号可替换测试探针的测试夹具 [P].

刘东 ;

张海洋 ;

吕文波 .

中国专利 :CN222280710U ,2024-12-31

[2]

测试探针、测试探针模块及测试装置 [P].

魏津 ;

胡雪原 ;

徐润生 .

中国专利 :CN113466504B ,2021-10-01

[3]

测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30

[4]

测试探针、测试夹具及测试系统 [P].

徐泰奎 ;

章大泉 ;

陈牡 .

中国专利 :CN215297446U ,2021-12-24

[5]

测试探针、测试探针组件及测试平台 [P].

聂林红 .

中国专利 :CN105308464A ,2016-02-03

[6]

测试探针、测试装置及测试方法 [P].

周超 ;

黄先纯 ;

张涛 ;

吴正运 ;

耿涛 ;

甘由鹏 .

中国专利 :CN107102181B ,2017-08-29

[7]

陶瓷刀片测试探针 [P].

刘东 ;

张海洋 ;

吕文波 .

中国专利 :CN308988048S ,2024-12-06

[8]

测试探针 [P].

迪特尔·伯泽 ;

西格弗里多·休奇 ;

吉赛普·兰弗兰科尼 ;

马蒂亚·谢吉亚 .

中国专利 :CN102197310B ,2011-09-21

[9]

测试探针 [P].

中谷康祐 ;

由井孝欣 .

日本专利 :CN309574385S ,2025-10-31

[10]

采集测试信号的测试探针 [P].

王洁琼 .

中国专利 :CN201368887Y ,2009-12-23

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