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物联网设备性能测试系统及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311737283.3
申请日：
2023-12-15
公开(公告)号：
CN117729140A
公开(公告)日：
2024-03-19
发明(设计)人：
何燕超
申请人：
中国建设银行股份有限公司
申请人地址：
100033 北京市西城区金融大街25号
IPC主分类号：
H04L43/50
IPC分类号：
H04L43/18 H04B17/10 H04B17/29 H04W24/10 H04L67/12
代理机构：
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：
薛平
法律状态：
公开
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-03-19 公开 公开
2024-04-05 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H04L 43/50申请日:20231215
共 50 条
[1]
物联网性能测试系统、方法和相应设备 [P]. 
黄坤 ;
陈舒 ;
曹俊 .
中国专利 :CN113973073A ,2022-01-25
[2]
一种物联网性能测试方法及系统 [P]. 
颜志威 ;
陈良旭 ;
苏庆丰 .
中国专利 :CN113079061A ,2021-07-06
[3]
物联网设备接入方法及系统 [P]. 
王茂帅 .
中国专利 :CN117675887A ,2024-03-08
[4]
工业物联网未知协议模糊测试方法、系统、设备及介质 [P]. 
陈凯 ;
张錋 ;
赵宇飞 ;
高雪芹 ;
马铁军 ;
魏桂臣 .
中国专利 :CN120528835A ,2025-08-22
[5]
一种物联网设备定位测试方法、装置及系统、物联网设备 [P]. 
沈阳 ;
陈梁 ;
白晶晶 ;
贾文强 .
中国专利 :CN118433769A ,2024-08-02
[6]
一种物联网设备定位测试方法、装置及系统、物联网设备 [P]. 
沈阳 ;
陈梁 ;
白晶晶 ;
贾文强 .
中国专利 :CN118433769B ,2024-09-17
[7]
物联网设备性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
胡小威 ;
张逸飞 .
中国专利 :CN119316330A ,2025-01-14
[8]
物联网设备的配网测试方法及系统 [P]. 
王三朋 ;
俞贵涛 .
中国专利 :CN111885679A ,2020-11-03
[9]
物联网设备测试方法、装置及系统 [P]. 
廖思亮 ;
宋晶 ;
肖磊 .
中国专利 :CN118041823A ,2024-05-14
[10]
一种物联网设备安全测试系统及测试方法 [P]. 
钱银 ;
朱智 .
中国专利 :CN120050100A ,2025-05-27
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