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光谱校正方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010694087.2
申请日
:
2020-07-17
公开(公告)号
:
CN114018856B
公开(公告)日
:
2024-06-11
发明(设计)人
:
李敬岩
褚小立
陈瀑
许育鹏
王小伟
章群丹
申请人
:
中国石油化工股份有限公司
中国石油化工股份有限公司石油化工科学研究院
申请人地址
:
100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号
IPC主分类号
:
G01N21/3577
IPC分类号
:
G01N21/359
G01N21/35
G01N21/33
G01N21/65
代理机构
:
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447
代理人
:
周建秋
法律状态
:
授权
国省代码
:
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-06-11
授权
授权
共 50 条
[1]
光谱校正方法
[P].
李敬岩
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李敬岩
;
褚小立
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褚小立
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陈瀑
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陈瀑
;
许育鹏
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许育鹏
;
王小伟
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王小伟
;
章群丹
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章群丹
.
中国专利
:CN114018856A
,2022-02-08
[2]
光谱校正装置及光谱校正方法
[P].
川口洋平
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川口洋平
;
乔治·查尔基迪斯
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乔治·查尔基迪斯
;
安田知弘
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安田知弘
.
中国专利
:CN112513619A
,2021-03-16
[3]
光谱校正装置及光谱校正方法
[P].
川口洋平
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
川口洋平
;
乔治·查尔基迪斯
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
乔治·查尔基迪斯
;
安田知弘
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
安田知弘
.
日本专利
:CN112513619B
,2024-02-02
[4]
光谱仪与光谱采样装置及其光谱校正方法
[P].
林明慧
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林明慧
;
陈正雄
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陈正雄
;
谢和易
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谢和易
;
黄勇谕
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黄勇谕
;
李锡滨
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李锡滨
.
中国专利
:CN109990898A
,2019-07-09
[5]
光谱校正方法及装置
[P].
石广立
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机构:
北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
石广立
;
康建梅
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北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
康建梅
;
王冰
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北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
王冰
;
董安宁
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北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
董安宁
;
王超
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机构:
北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
王超
.
中国专利
:CN118500545B
,2024-10-01
[6]
光谱校正方法及装置
[P].
石广立
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北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
石广立
;
康建梅
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北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
康建梅
;
王冰
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北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
王冰
;
董安宁
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北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
董安宁
;
王超
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机构:
北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
王超
.
中国专利
:CN118500545A
,2024-08-16
[7]
光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置
[P].
石广立
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机构:
北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
石广立
;
蔡宏太
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北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
蔡宏太
;
王冰
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机构:
北京卓立汉光分析仪器有限公司
北京卓立汉光分析仪器有限公司
王冰
.
中国专利
:CN113237549B
,2025-08-12
[8]
光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置
[P].
石广立
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石广立
;
蔡宏太
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蔡宏太
;
王冰
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王冰
.
中国专利
:CN113237549A
,2021-08-10
[9]
光谱校正方法、显示调整方法及装置、光谱校正模组
[P].
邵明天
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机构:
西安欧珀通信科技有限公司
西安欧珀通信科技有限公司
邵明天
.
中国专利
:CN118258490A
,2024-06-28
[10]
光谱整合校正方法及多光谱光谱仪
[P].
安振基
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安振基
;
张原宾
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张原宾
;
刘曜达
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刘曜达
.
中国专利
:CN115372270A
,2022-11-22
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