芯片状态检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321996091.X

申请日：

2023-07-26

公开(公告)号：

CN220664063U

公开(公告)日：

2024-03-26

发明(设计)人：

黄先伟严邦民王煜锋包荣剑万杨

申请人：

杭州长川科技股份有限公司

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区聚才路410号

IPC主分类号：

B65G47/90

IPC分类号：

B65G43/08 B65G47/74 G01R31/28

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250

代理人：

徐潇

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省杭州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-26	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片状态检测方法 [P].

黄先伟 ;

严邦民 ;

王煜锋 ;

包荣剑 ;

万杨 .

中国专利 :CN119419129A ,2025-02-11

[2]

玻璃碎片状态检测装置 [P].

于翔 ;

苏中华 ;

刘中明 ;

黄太忠 ;

王娇娜 .

中国专利 :CN105403455A ,2016-03-16

[3]

偏移状态检测方法及偏移状态检测装置 [P].

孙小芹 ;

苏运坤 .

中国专利 :CN112928040A ,2021-06-08

[4]

偏移状态检测方法及偏移状态检测装置 [P].

孙小芹 ;

苏运坤 .

中国专利 :CN112928040B ,2024-07-23

[5]

拱型金属爆破片状态检测装置 [P].

李大斯 ;

杨欣 ;

袁长江 .

中国专利 :CN201851727U ,2011-06-01

[6]

列车闸片状态的检测方法和检测装置 [P].

杨凯 ;

梁斌 ;

高春良 ;

谢利明 ;

文鑫 ;

董川 ;

李恒雨 .

中国专利 :CN112634223A ,2021-04-09

[7]

列车闸片状态的检测方法和检测装置 [P].

杨凯 ;

梁斌 ;

高春良 ;

谢利明 ;

文鑫 ;

董川 ;

李恒雨 .

中国专利 :CN112634223B ,2024-12-31

[8]

一种钢化玻璃强度及碎片状态检测装置 [P].

赵紫荣 .

中国专利 :CN211576785U ,2020-09-25

[9]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25

[10]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20

← 1 2 3 4 5 →