一种光学玻璃厚度测量仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322359673.3

申请日：

2023-08-31

公开(公告)号：

CN220602484U

公开(公告)日：

2024-03-15

发明(设计)人：

刘刚

申请人：

嘉兴德恩光学科技有限公司

申请人地址：

314001 浙江省嘉兴市南湖区新丰镇工业园区乍王公路南侧1号厂房南侧

IPC主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

代理机构：

余姚德盛专利代理事务所(普通合伙) 33239

代理人：

戚秋鹏

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学玻璃厚度测量仪 [P].

陈跃华 ;

彭从锋 ;

赵康杰 ;

卜志超 ;

陈时兴 .

中国专利 :CN217465750U ,2022-09-20

[2]

玻璃厚度测量仪 [P].

林苡竹 .

中国专利 :CN201548206U ,2010-08-11

[3]

一种玻璃厚度测量仪 [P].

叶波 ;

叶绍德 ;

林风 ;

付志敏 .

中国专利 :CN120627916A ,2025-09-12

[4]

厚度测量仪 [P].

张珍 ;

熊义军 ;

董金龙 .

中国专利 :CN207300109U ,2018-05-01

[5]

厚度测量仪 [P].

张新军 ;

陈涛 .

中国专利 :CN201293627Y ,2009-08-19

[6]

厚度测量仪 [P].

韩鉴波 ;

陈炜 ;

黄建 ;

李苏敏 .

中国专利 :CN205505936U ,2016-08-24

[7]

厚度测量仪 [P].

胡忠录 .

中国专利 :CN201583226U ,2010-09-15

[8]

厚度测量仪 [P].

穆亚杰 ;

岳开国 .

中国专利 :CN201449236U ,2010-05-05

[9]

一种玻璃胶片厚度测量仪 [P].

李国勇 .

中国专利 :CN204881448U ,2015-12-16

[10]

一种厚度测量仪 [P].

吴通 ;

余布德 .

中国专利 :CN205642297U ,2016-10-12

← 1 2 3 4 5 →