激光器芯片的老化测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111147590.7

申请日：

2021-09-29

公开(公告)号：

CN114325297B

公开(公告)日：

2024-03-22

发明(设计)人：

黄建军胡海洋罗跃浩

申请人：

苏州联讯仪器股份有限公司

申请人地址：

215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

H01S5/00 B01D46/10

代理机构：

苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697

代理人：

王健

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-22	授权	授权

共 50 条

[1]

激光器芯片的老化测试装置 [P].

黄建军 ;

胡海洋 ;

罗跃浩 .

中国专利 :CN114325297A ,2022-04-12

[2]

激光器老化测试装置 [P].

于洋 ;

赵卫东 ;

张艳春 ;

杨国文 ;

雷谢福 ;

刘杰 .

中国专利 :CN115542054A ,2022-12-30

[3]

激光器老化测试装置 [P].

于洋 ;

赵卫东 ;

张艳春 ;

杨国文 ;

雷谢福 ;

刘杰 .

中国专利 :CN115542054B ,2024-05-14

[4]

激光器芯片的测试装置 [P].

谢少华 ;

陈开帆 ;

胡靖 ;

黄黎明 .

中国专利 :CN209640453U ,2019-11-15

[5]

激光器芯片测试装置和激光器芯片测试方法 [P].

马超 ;

程海兵 ;

黄秋元 ;

周鹏 .

中国专利 :CN114325351A ,2022-04-12

[6]

激光器寿命老化测试装置 [P].

潘华东 ;

郭学文 ;

王俊 ;

钱承 .

中国专利 :CN113008522A ,2021-06-22

[7]

激光器芯片的参数测试装置 [P].

范旭东 ;

杨炳雄 ;

范明海 ;

张奇 ;

孙伟杰 ;

李志强 ;

刘婷婷 .

中国专利 :CN218445843U ,2023-02-03

[8]

激光器芯片用测试装置 [P].

罗跃浩 ;

徐鹏嵩 ;

赵山 ;

王化发 .

中国专利 :CN210720639U ,2020-06-09

[9]

用于激光器芯片的高效测试装置 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN218158210U ,2022-12-27

[10]

一种激光器老化测试装置 [P].

黄河 .

中国专利 :CN217954523U ,2022-12-02

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