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用于测量电磁辐射的强度的光电测量设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202080037802.3
申请日：
2020-05-12
公开(公告)号：
CN113853511B
公开(公告)日：
2024-05-03
发明(设计)人：
丹尼尔·迪策
沃尔夫冈·津克尔
申请人：
奥斯兰姆奥普托半导体股份有限两合公司
申请人地址：
德国雷根斯堡
IPC主分类号：
G01J1/04
IPC分类号：
代理机构：
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人：
张英
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-05-03 | 授权 | 授权 |