类镜面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311591905.6

申请日：

2023-11-24

公开(公告)号：

CN117388180A

公开(公告)日：

2024-01-12

发明(设计)人：

魏晟宋梦洒易京亚廖茂竹周德成温志庆

申请人：

季华实验室

申请人地址：

528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/88 G01N21/95

代理机构：

深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268

代理人：

徐凯凯

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20231124
2024-01-12	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

冯玮 ;

张一凡 .

中国专利 :CN117853418A ,2024-04-09

[2]

瓶口缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

林国森 ;

高凌燕 .

中国专利 :CN117036273B ,2025-11-25

[3]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄耀 ;

胡中慧 .

中国专利 :CN114155244B ,2022-03-08

[4]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

张辉 ;

王景泰 .

中国专利 :CN118365600A ,2024-07-19

[5]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘雯 ;

沈利坚 .

中国专利 :CN121163919A ,2025-12-19

[6]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质 [P].

朱合军 ;

钟建平 ;

林淼 ;

张恒瑞 ;

马先明 ;

陈其涛 ;

康映华 .

中国专利 :CN117726610A ,2024-03-19

[7]

显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

李林峰 ;

陈浪 ;

方锑 .

中国专利 :CN120912565A ,2025-11-07

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈维玲 ;

戴波 ;

夏健钧 ;

严静 ;

秦祥熙 ;

陈嘉豪 .

中国专利 :CN120385688A ,2025-07-29

[9]

缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P].

李明洋 .

中国专利 :CN111583258A ,2020-08-25

[10]

缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P].

张元 ;

柴正约 ;

陈斌 ;

刘永江 ;

李波 .

中国专利 :CN116500042B ,2024-01-26

← 1 2 3 4 5 →