内存泄漏检测方法、装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410576360.X

申请日：

2024-05-10

公开(公告)号：

CN118132404A

公开(公告)日：

2024-06-04

发明(设计)人：

许晶王鑫杜君樊琳丁娴李腾浩王晓东聂睿郭艳鹏王爽赵婷杨艺宁付利莉梁召庆王志强赵世杰

申请人：

北京智芯微电子科技有限公司北京智芯半导体科技有限公司中国电力科学研究院有限公司

申请人地址：

100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼

IPC主分类号：

G06F11/34

IPC分类号：

G06F9/50

代理机构：

北京润平知识产权代理有限公司 11283

代理人：

谢熠

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-23	授权	授权
2024-06-04	公开	公开
2024-06-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/34申请日:20240510

共 50 条

[1]

内存泄漏检测方法、装置和电子设备 [P].

许晶 ;

王鑫 ;

杜君 ;

樊琳 ;

丁娴 ;

李腾浩 ;

王晓东 ;

聂睿 ;

郭艳鹏 ;

王爽 ;

赵婷 ;

杨艺宁 ;

付利莉 ;

梁召庆 ;

王志强 ;

赵世杰 .

中国专利 :CN118132404B ,2024-07-23

[2]

内存泄漏检测方法、可读介质和电子设备 [P].

杨林 .

中国专利 :CN116680161B ,2024-06-07

[3]

内存泄漏检测方法、装置和设备 [P].

蒋永俊 ;

熊友军 .

中国专利 :CN112214394A ,2021-01-12

[4]

内存泄漏检测方法、装置和设备 [P].

蒋永俊 ;

熊友军 .

中国专利 :CN112214394B ,2024-05-03

[5]

内存泄漏检测方法和装置 [P].

王超 .

中国专利 :CN113760711B ,2025-09-16

[6]

内存泄漏检测方法和装置 [P].

王超 .

中国专利 :CN113760711A ,2021-12-07

[7]

内存泄漏检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

丘衍 .

中国专利 :CN119537167A ,2025-02-28

[8]

内存泄漏检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

丘衍 .

中国专利 :CN119537167B ,2025-09-30

[9]

内存泄漏检测方法、电子设备及存储介质 [P].

朱潇 ;

赵俊民 .

中国专利 :CN118484377B ,2025-03-11

[10]

内存泄漏检测方法、电子设备及存储介质 [P].

朱潇 ;

赵俊民 .

中国专利 :CN118484377A ,2024-08-13

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