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用于检测集成电路中的故障注入攻击的电路和方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311021762.5
申请日：
2023-08-14
公开(公告)号：
CN117610090A
公开(公告)日：
2024-02-27
发明(设计)人：
尼基塔·韦希科夫
申请人：
恩智浦有限公司
申请人地址：
荷兰埃因霍温高科技园区60邮编：5656 AG
IPC主分类号：
G06F21/76
IPC分类号：
G01R31/28 G06F21/72 G06F21/52 G06F21/51
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
冯薇;李敬文
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-05 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 21/76申请日:20230814
2024-02-27 公开 公开
共 50 条
[1]
集成电路中的故障注入攻击检测 [P]. 
苏巴亚·乔得利·亚纳马达拉 ;
米卡尔·伊夫·玛丽·瑞恩 ;
阿尼什·达纳库拉 ;
罗马·鲁德拉 .
英国专利 :CN112204728B ,2024-08-13
[2]
集成电路中的故障注入攻击检测 [P]. 
苏巴亚·乔得利·亚纳马达拉 ;
米卡尔·伊夫·玛丽·瑞恩 ;
阿尼什·达纳库拉 ;
罗马·鲁德拉 .
中国专利 :CN112204728A ,2021-01-08
[3]
用于检测对密码装置的故障注入攻击的密码集成电路和方法 [P]. 
S·吉耶 ;
M·勒罗兰 .
法国专利 :CN112689837B ,2025-02-28
[4]
基于部分扫描的集成电路故障注入攻击模拟方法 [P]. 
李博超 ;
刘强 .
中国专利 :CN109581206B ,2019-04-05
[5]
集成电路及其故障注入攻击对策检测器的测试方法和设备 [P]. 
伊兰·马格利特 ;
日弗·赫诗曼 ;
昂·梅珍 .
中国专利 :CN120428070A ,2025-08-05
[6]
在集成电路中探测光故障注入攻击的结构及其探测方法 [P]. 
赵毅强 ;
何家骥 ;
刘阿强 ;
杨松 ;
李旭 .
中国专利 :CN105184194A ,2015-12-23
[7]
基于FPGA的集成电路抗故障注入攻击能力评估方法 [P]. 
徐松 ;
刘强 ;
李涛 .
中国专利 :CN106777529A ,2017-05-31
[8]
用于集成电路的电磁故障注入探测方法及相应的集成电路 [P]. 
张英辉 ;
张行健 .
中国专利 :CN111239582A ,2020-06-05
[9]
用于集成电路的防止故障注入控制信号的方法及集成电路 [P]. 
张英辉 ;
张行健 .
中国专利 :CN111241780A ,2020-06-05
[10]
基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法 [P]. 
邓鹏杰 ;
刘强 .
中国专利 :CN107947969A ,2018-04-20
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