测量方法和测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211210852.4

申请日：

2022-09-30

公开(公告)号：

CN117848668A

公开(公告)日：

2024-04-09

发明(设计)人：

王超韦丽清银双贵

申请人：

华为技术有限公司

申请人地址：

518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329

代理人：

毛威;肖鹂

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20220930
2024-04-09	公开	公开

共 50 条

[1]

测量系统和测量方法 [P].

石川雅弘 ;

萱场義隆 ;

吹野豪 ;

村松弘隆 .

中国专利 :CN109931898B ,2019-06-25

[2]

测量系统和测量方法 [P].

T.赫尔德 .

中国专利 :CN107883831A ,2018-04-06

[3]

测量系统和测量方法 [P].

张诏 ;

马强 ;

潘君艳 ;

张杭 ;

李华 ;

王致同 .

中国专利 :CN115825356B ,2025-05-30

[4]

测量方法和测量系统 [P].

王金川 ;

何朝雄 ;

李翠红 ;

应倩雯 ;

胡慧珠 .

中国专利 :CN118936706A ,2024-11-12

[5]

测量系统和测量方法 [P].

伍强 ;

蒋运涛 .

中国专利 :CN105988297A ,2016-10-05

[6]

测量系统和测量方法 [P].

何俊 ;

张哲 ;

王义平 ;

王英 ;

廖常锐 .

中国专利 :CN107655858A ,2018-02-02

[7]

测量方法和测量系统 [P].

藤原光 .

日本专利 :CN118103663A ,2024-05-28

[8]

测量方法和测量系统 [P].

王寒 ;

王斌 .

中国专利 :CN119437123A ,2025-02-14

[9]

测量装置、测量系统和测量方法 [P].

李安宁 ;

唐辉强 ;

贾佳 .

中国专利 :CN114145765A ,2022-03-08

[10]

测量装置、测量系统和测量方法 [P].

王浩 .

中国专利 :CN113465744A ,2021-10-01

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