调试装置及模组测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202322324069.7
申请日
2023-08-28
公开(公告)号
CN220872040U
公开(公告)日
2024-04-30
发明(设计)人
杨宗其 刘帅华 黄朱哲
申请人
东莞高伟光学电子有限公司
申请人地址
523405 广东省东莞市寮步镇寮步松柏路302号
IPC主分类号
G01M11/00
IPC分类号
代理机构
深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481
代理人
王旭
法律状态
授权
国省代码
广东省 东莞市
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共 50 条
[1]
调试装置及调试设备 [P]. 
宋磊磊 .
中国专利 :CN222618479U ,2025-03-14
[2]
气密测试装置及气密测试设备 [P]. 
王潇晗 ;
侯超 .
中国专利 :CN222850216U ,2025-05-09
[3]
调试装置及设备 [P]. 
周赛军 ;
王国亮 .
中国专利 :CN113310674A ,2021-08-27
[4]
测试装置及测试设备 [P]. 
陈永平 ;
任明海 ;
陈凯涛 .
中国专利 :CN223259135U ,2025-08-22
[5]
测试用调试装置 [P]. 
柴璇 ;
李刚 ;
宋军 ;
刘福建 ;
宋东辉 ;
王涛 ;
陈宏野 ;
陈德强 .
中国专利 :CN210210083U ,2020-03-31
[6]
调试装置、方法及设备 [P]. 
侯恩星 .
中国专利 :CN107562500A ,2018-01-09
[7]
背光模组光程调试装置 [P]. 
李健林 ;
孙杰 ;
林武斌 .
中国专利 :CN205880443U ,2017-01-11
[8]
显示模组参考电压的调试电路、调试方法及调试装置 [P]. 
贺涛 ;
史兴盛 .
中国专利 :CN113674661B ,2024-02-02
[9]
显示模组参考电压的调试电路、调试方法及调试装置 [P]. 
贺涛 ;
史兴盛 .
中国专利 :CN113674661A ,2021-11-19
[10]
调试电路、调试装置及电子设备 [P]. 
杨延竹 ;
刘长清 ;
尹程斌 ;
于波 ;
张华 .
中国专利 :CN216561762U ,2022-05-17