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显示校准方法、显示校准装置以及显示校准系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410029370.1
申请日
:
2024-01-08
公开(公告)号
:
CN117761922A
公开(公告)日
:
2024-03-26
发明(设计)人
:
张莹
张晓
申请人
:
京东方科技集团股份有限公司
申请人地址
:
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
IPC主分类号
:
G02F1/13
IPC分类号
:
G02F1/133
G09G3/36
代理机构
:
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人
:
张翠蓬
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-12
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G02F 1/13申请日:20240108
2024-03-26
公开
公开
共 50 条
[1]
校准设备、校准系统和显示设备校准方法
[P].
高野晃洋
论文数:
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高野晃洋
;
明官佳宏
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明官佳宏
.
中国专利
:CN111857623A
,2020-10-30
[2]
显示校准方法、显示面板的校准系统和显示装置
[P].
苏蓉
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机构:
TCL华星光电技术有限公司
TCL华星光电技术有限公司
苏蓉
;
康芯仪
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机构:
TCL华星光电技术有限公司
TCL华星光电技术有限公司
康芯仪
;
钟晓洁
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机构:
TCL华星光电技术有限公司
TCL华星光电技术有限公司
钟晓洁
;
游顺强
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机构:
TCL华星光电技术有限公司
TCL华星光电技术有限公司
游顺强
;
郭玲敏
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机构:
TCL华星光电技术有限公司
TCL华星光电技术有限公司
郭玲敏
.
中国专利
:CN117746808A
,2024-03-22
[3]
显示校准方法和装置、终端、校准系统和存储介质
[P].
郑超
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机构:
OPPO广东移动通信有限公司
OPPO广东移动通信有限公司
郑超
.
中国专利
:CN112365550B
,2024-07-16
[4]
显示设备的色彩校准方法及色彩校准系统
[P].
李建强
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李建强
;
文东
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文东
.
中国专利
:CN105336308A
,2016-02-17
[5]
显示校准方法和装置、终端、校准系统和存储介质
[P].
郑超
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郑超
.
中国专利
:CN112365550A
,2021-02-12
[6]
显示装置、道路监控校准系统及校准方法
[P].
滕玉龙
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机构:
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
滕玉龙
;
伦观涛
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机构:
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
伦观涛
;
黄玉珲
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机构:
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
黄玉珲
;
李伟
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机构:
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
李伟
;
万一彬
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上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
万一彬
;
张伟
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机构:
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心)
张伟
.
中国专利
:CN118172946A
,2024-06-11
[7]
校准系统、校准装置以及程序
[P].
永井浩大
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机构:
柯尼卡美能达株式会社
柯尼卡美能达株式会社
永井浩大
;
出石聪史
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机构:
柯尼卡美能达株式会社
柯尼卡美能达株式会社
出石聪史
;
上松干夫
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机构:
柯尼卡美能达株式会社
柯尼卡美能达株式会社
上松干夫
.
日本专利
:CN113518903B
,2024-03-15
[8]
显示面板均匀性校准系统
[P].
白楠
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白楠
;
基兰·托拜厄斯·莱文
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基兰·托拜厄斯·莱文
;
艾哈迈德·比亚戈威
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艾哈迈德·比亚戈威
.
中国专利
:CN114303118A
,2022-04-08
[9]
显示控制装置、显示控制方法及校准系统
[P].
住吉悠希
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住吉悠希
;
竹里尚嘉
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竹里尚嘉
.
中国专利
:CN110234530A
,2019-09-13
[10]
校准系统、校准装置以及程序
[P].
永井浩大
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永井浩大
;
出石聪史
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出石聪史
;
上松干夫
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上松干夫
.
中国专利
:CN113518903A
,2021-10-19
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