PCB表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311601865.9

申请日：

2023-11-28

公开(公告)号：

CN117557538A

公开(公告)日：

2024-02-13

发明(设计)人：

李泉洲胡宁蒋诗新刘振国郑清文

申请人：

中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

申请人地址：

511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/774 G06V10/764 G06V10/40

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

张慧莹

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-13	公开	公开
2024-03-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231128

共 50 条

[1]

芯片表面缺陷检测方法、系统、计算机设备和存储介质 [P].

任获荣 ;

熊振锋 ;

李志武 ;

詹劲松 ;

吕银飞 ;

高雪峰 .

中国专利 :CN113554630A ,2021-10-26

[2]

物体表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN114359228A ,2022-04-15

[3]

表面缺陷检测方法及装置、计算机设备和存储介质 [P].

江志坚 ;

王劦 ;

吴小彬 .

中国专利 :CN117828352A ,2024-04-05

[4]

钢铁表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李潭 ;

宋伟宁 ;

陈南江 ;

高方方 ;

吴守栾 ;

宋超 ;

王琪 ;

林燕文 ;

殷润民 .

中国专利 :CN120726028A ,2025-09-30

[5]

钢铁表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李潭 ;

宋伟宁 ;

陈南江 ;

高方方 ;

吴守栾 ;

宋超 ;

王琪 ;

林燕文 ;

殷润民 .

中国专利 :CN120726028B ,2025-10-31

[6]

对象缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

马强 ;

吴则平 ;

王晓飞 ;

李慧聪 ;

李想 ;

余枕锟 ;

周超 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN114782445A ,2022-07-22

[7]

器件缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

黄权 ;

孙宸 ;

武慧薇 ;

陈义强 ;

路国光 .

中国专利 :CN117575995A ,2024-02-20

[8]

PCB板缺陷检测方法、装置、存储介质和计算机设备 [P].

吕杰 ;

张晖 ;

万斌 .

中国专利 :CN118037663A ,2024-05-14

[9]

PCB缺陷的检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114581415A ,2022-06-03

[10]

滚子表面缺陷检测方法、计算机设备和存储介质 [P].

马跃洋 ;

尹青青 ;

刘丙才 ;

朱学亮 ;

王红军 ;

田爱玲 .

中国专利 :CN119784709B ,2025-10-03

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