一种芯片测试方法及其测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410477576.0

申请日：

2024-04-19

公开(公告)号：

CN118091374A

公开(公告)日：

2024-05-28

发明(设计)人：

李金钵郭艳飞

申请人：

伯芯微电子（天津）有限公司

申请人地址：

300457 天津市滨海新区经济技术开发区西区中南四街113号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G06F11/22

代理机构：

天津创扬知识产权代理事务所(普通合伙) 12268

代理人：

肖伟杨

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-09	授权	授权
2024-05-28	公开	公开
2024-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240419

共 50 条

[1]

一种芯片测试方法及其测试装置 [P].

李金钵 ;

郭艳飞 .

中国专利 :CN118091374B ,2024-07-09

[2]

一种芯片测试装置及其测试方法 [P].

刘红桥 ;

刘洋 ;

沈雨晴 .

中国专利 :CN120559439A ,2025-08-29

[3]

芯片测试装置 [P].

汤华杰 ;

马文远 ;

陈凝 .

中国专利 :CN221686566U ,2024-09-10

[4]

一种芯片测试装置 [P].

李尚成 ;

高安明 ;

姜伟 .

中国专利 :CN220603638U ,2024-03-15

[5]

一种芯片测试装置 [P].

顾培东 ;

张彤 .

中国专利 :CN114879018B ,2025-02-18

[6]

一种芯片测试装置 [P].

王耀 .

中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16

[7]

一种芯片测试装置 [P].

顾培东 ;

张彤 .

中国专利 :CN114879018A ,2022-08-09

[8]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[9]

一种芯片测试装置及测试方法 [P].

王稳稳 .

中国专利 :CN118571298A ,2024-08-30

[10]

一种芯片测试器及芯片测试装置 [P].

常文龙 ;

李贝贝 .

中国专利 :CN118671559A ,2024-09-20

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