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一种天线性能测试装置及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311599281.2
申请日：
2023-11-28
公开(公告)号：
CN117335897B
公开(公告)日：
2024-02-02
发明(设计)人：
顾长飞
李贺
申请人：
深圳市飞宇信电子有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙岗区园山街道西坑社区宝桐南路76号厂房1层-4层
IPC主分类号：
H04B17/00
IPC分类号：
H04B17/15
H04B17/29
代理机构：
深圳宏创有为知识产权代理事务所(普通合伙) 44837
代理人：
邓冠山
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省
深圳市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-01-19 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):H04B 17/00申请日:20231128 |
| 2024-01-02 | 公开 | 公开 |
| 2024-02-02 | 授权 | 授权 |