元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311533579.3

申请日：

2023-11-16

公开(公告)号：

CN117670110A

公开(公告)日：

2024-03-08

发明(设计)人：

汪洋吴传文鲍小丽许雯嘉张晨

申请人：

航天科工防御技术研究试验中心

申请人地址：

100085 北京市海淀区永定路50号

IPC主分类号：

G06Q10/0639

IPC分类号：

代理机构：

北京风雅颂专利代理有限公司 11403

代理人：

车英慧

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-08	公开	公开
2024-03-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06Q 10/0639申请日:20231116

共 50 条

[1]

故障元器件确定方法、装置、设备以及存储介质 [P].

罗慧 ;

王翔宇 ;

孟子文 ;

徐国彬 ;

戴瑞东 ;

蒋嵩 ;

王柏志 ;

高奇峰 ;

张鹏 ;

霍学华 .

中国专利 :CN118330431A ,2024-07-12

[2]

元器件的剩余寿命确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

闫涛 ;

徐振炀 ;

张志林 ;

吕昊远 ;

唐丽丽 .

中国专利 :CN119598824B ,2025-08-12

[3]

元器件的剩余寿命确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

闫涛 ;

徐振炀 ;

张志林 ;

吕昊远 ;

唐丽丽 .

中国专利 :CN119598824A ,2025-03-11

[4]

元器件的缺陷等级检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谢思映 ;

梅亮 ;

罗俊杰 ;

张文瑞 ;

张钊 ;

孙铮 ;

陆涛 .

中国专利 :CN119693297A ,2025-03-25

[5]

疾病趋势等级确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

李月 ;

蔡杭 ;

魏征 .

中国专利 :CN111326259B ,2025-05-23

[6]

预警等级确定方法、装置、设备及可读存储介质 [P].

冯跃东 .

中国专利 :CN107993006A ,2018-05-04

[7]

交互资格等级确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄福华 ;

王亮 ;

郑文琛 .

中国专利 :CN111768241A ,2020-10-13

[8]

交互资格等级确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄福华 ;

王亮 ;

郑文琛 .

中国专利 :CN111768241B ,2025-04-29

[9]

疾病趋势等级确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

李月 ;

蔡杭 ;

魏征 .

中国专利 :CN111326259A ,2020-06-23

[10]

交互资格等级确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄福华 ;

王亮 ;

郑文琛 .

中国专利 :CN111861549B ,2025-03-25

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