校验方法、装置、电子设备、存储介质及芯片

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110896024.X

申请日：

2021-08-05

公开(公告)号：

CN113739819B

公开(公告)日：

2024-04-16

发明(设计)人：

宋乐张亦弛陈侃秦宝星程昊天

申请人：

上海高仙自动化科技发展有限公司

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层

IPC主分类号：

G01C25/00

IPC分类号：

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

黄威

法律状态：

授权

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-16	授权	授权

共 50 条

[1]

校验方法、装置、电子设备、存储介质及芯片 [P].

宋乐 ;

张亦弛 ;

陈侃 ;

秦宝星 ;

程昊天 .

中国专利 :CN113739819A ,2021-12-03

[2]

报文校验方法、装置、电子设备、芯片及存储介质 [P].

梁小刚 .

中国专利 :CN120378496A ,2025-07-25

[3]

芯片校验方法、装置、电子设备、车辆及存储介质 [P].

李家兴 ;

王永珠 ;

刘素利 ;

阳梅 ;

彭锐铁 .

中国专利 :CN118839341A ,2024-10-25

[4]

芯片、芯片安全校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘勇 ;

张衍奎 ;

马晓菲 ;

朱磊 .

中国专利 :CN120148602A ,2025-06-13

[5]

数据的校验方法、装置、电子设备、存储介质及芯片 [P].

陈昊田 ;

石岩 .

中国专利 :CN120415641A ,2025-08-01

[6]

数据的校验方法、装置、电子设备、存储介质及芯片 [P].

徐有军 .

中国专利 :CN120068165A ,2025-05-30

[7]

校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

向瑞曾 .

中国专利 :CN119149970A ,2024-12-17

[8]

校验方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张洁 ;

刘新 .

中国专利 :CN115373676A ,2022-11-22

[9]

校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙晓晶 ;

王举 .

中国专利 :CN120723242A ,2025-09-30

[10]

数据校验方法、装置、芯片、电子设备以及存储介质 [P].

王海生 ;

冷祥纶 ;

刘文龙 ;

赵月新 ;

刘晨 .

中国专利 :CN118611682A ,2024-09-06

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