功能测试方法、系统、装置、终端设备以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210096426.6

申请日：

2022-01-26

公开(公告)号：

CN114553755B

公开(公告)日：

2024-04-26

发明(设计)人：

胡小洁杨昕澎胡红波

申请人：

深圳研控自动化科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷六栋B座1607-1611

IPC主分类号：

H04L43/50

IPC分类号：

H04L12/40

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

钟永翠

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-26	授权	授权

共 50 条

[1]

功能测试方法、系统、装置、终端设备以及存储介质 [P].

胡小洁 ;

杨昕澎 ;

胡红波 .

中国专利 :CN114553755A ,2022-05-27

[2]

测试方法、装置、终端设备以及存储介质 [P].

刘新 ;

王南舟 ;

官晓进 .

中国专利 :CN118152285A ,2024-06-07

[3]

LVDS功能测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

姚鑫 .

中国专利 :CN115695228A ,2023-02-03

[4]

LVDS功能测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

姚鑫 ;

尹玉涛 ;

胡金 .

中国专利 :CN115695228B ,2024-05-14

[5]

压力测试方法、装置、终端设备以及存储介质 [P].

李尚云 ;

伍祺昱 ;

胡循锋 .

中国专利 :CN117707872A ,2024-03-15

[6]

性能测试方法、装置、终端设备以及存储介质 [P].

王峰 ;

许治华 ;

陈运权 ;

张强 .

中国专利 :CN117407283A ,2024-01-16

[7]

压力测试方法、装置、终端设备以及存储介质 [P].

邓超 ;

肖鹏 ;

叶彬 .

中国专利 :CN117453541A ,2024-01-26

[8]

性能测试方法、装置、终端设备以及存储介质 [P].

陆志鹏 ;

韩光 ;

李嘉宁 ;

郑曦 ;

郭祎萍 ;

国丽 ;

刘彬彬 ;

马博原 ;

周洋 ;

周福春 .

中国专利 :CN117435450A ,2024-01-23

[9]

软件测试方法、装置、终端设备以及存储介质 [P].

吴国华 .

中国专利 :CN117573510A ,2024-02-20

[10]

接口测试方法、装置、终端设备以及存储介质 [P].

刘颖麒 ;

邸立涛 .

中国专利 :CN114816986A ,2022-07-29

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