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测试卡

被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202330447731.0
申请日：
2023-07-17
公开(公告)号：
CN308548268S
公开(公告)日：
2024-03-29
发明(设计)人：
黄高祥
申请人：
深圳市理邦精密仪器股份有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市坪山新区坑梓街道金沙社区金辉路15号
IPC主分类号：
24-02
IPC分类号：
代理机构：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人：
田茂虎
法律状态：
授权
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-03-29 授权 授权
共 50 条
[1]
测试卡疏通盒 [P]. 
黄高祥 ;
黎远标 .
中国专利 :CN309444569S ,2025-08-15
[2]
测试卡 [P]. 
克里斯·休伊特 ;
卢克·赫伦 ;
安德鲁·博瑟姆 .
中国专利 :CN306895631S ,2021-10-22
[3]
测试卡 [P]. 
刘飞 ;
卢玉华 ;
刘荐轩 ;
胡佳 ;
李文洁 ;
张慧 ;
刘晓宁 .
中国专利 :CN309485984S ,2025-09-09
[4]
测试卡 [P]. 
郑苏华 ;
滕丽琼 ;
陈黎萍 .
中国专利 :CN307084701S ,2022-01-25
[5]
测试卡 [P]. 
丁建林 ;
郭秀丽 ;
张敏 ;
蒋艳艳 .
中国专利 :CN304838350S ,2018-10-02
[6]
测试卡 [P]. 
罗斯·穆德 ;
诺亚·梦露 ;
雷蒙德·欧比尔 ;
布赖恩·利文斯顿 ;
帕特里克·艾伦·耶比克 .
中国专利 :CN304999552S ,2019-01-15
[7]
测试卡 [P]. 
方剑秋 .
中国专利 :CN307237134S ,2022-04-05
[8]
测试卡 [P]. 
陈晴 .
中国专利 :CN303238415S ,2015-06-10
[9]
测试卡 [P]. 
丁建林 ;
郭秀丽 ;
张敏 ;
蒋艳艳 .
中国专利 :CN304838349S ,2018-10-02
[10]
测试卡 [P]. 
方少华 ;
雷似愚 ;
方剑秋 ;
麻蓉 .
中国专利 :CN307437943S ,2022-07-05
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