一种功耗分析方法、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311840142.4
申请日
2023-12-27
公开(公告)号
CN117829039A
公开(公告)日
2024-04-05
发明(设计)人
请求不公布姓名
申请人
杭州行芯科技有限公司
申请人地址
310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号3号楼11层
IPC主分类号
G06F30/30
IPC分类号
G06F119/06
代理机构
上海波拓知识产权代理有限公司 31264
代理人
林丽璀
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
忻韬 .
中国专利 :CN117369608A ,2024-01-09
[2]
功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118013900A ,2024-05-10
[3]
功耗分析方法、装置、电子设备、存储介质 [P]. 
王毓千 ;
梁洪昌 ;
晋大师 .
中国专利 :CN115935870B ,2025-07-25
[4]
功耗分析方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117632650A ,2024-03-01
[5]
功耗优化方法、电子设备及存储介质 [P]. 
刘康 .
中国专利 :CN113596969A ,2021-11-02
[6]
功耗控制方法、存储介质及电子设备 [P]. 
许明 .
中国专利 :CN111077979B ,2020-04-28
[7]
电子设备的功耗控制方法及存储介质、电子设备 [P]. 
黄锋 .
中国专利 :CN119126965A ,2024-12-13
[8]
新能源汽车功耗分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
姚李 ;
唐伟 ;
濮升华 .
中国专利 :CN118228373A ,2024-06-21
[9]
功耗测试电路、功耗测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
任卫坤 ;
钟光华 ;
熊强 .
中国专利 :CN117590063B ,2024-06-04
[10]
功耗测试电路、功耗测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
任卫坤 ;
钟光华 ;
熊强 .
中国专利 :CN117590063A ,2024-02-23