一种真空高低温探针台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321887873.X

申请日：

2023-07-18

公开(公告)号：

CN220437601U

公开(公告)日：

2024-02-02

发明(设计)人：

江明燕石王凯戴文聪廖万述

申请人：

深圳市森东宝科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区嘉义源数码科技园2号1层A区

IPC主分类号：

G01K1/14

IPC分类号：

G01K13/00

代理机构：

深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785

代理人：

张奇

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于真空高低温探针台的探针机构 [P].

刘世文 .

中国专利 :CN217155612U ,2022-08-09

[2]

一种高低温真空密封探针台 [P].

张晓晶 .

中国专利 :CN216646585U ,2022-05-31

[3]

真空高低温半导体测试探针台 [P].

刘世文 .

中国专利 :CN307233079S ,2022-04-05

[4]

一种非真空的高低温探针台 [P].

张子平 ;

封桂英 ;

冯基瑞 .

中国专利 :CN217443486U ,2022-09-16

[5]

一种高低温探针台的探针组件 [P].

蔡旭东 ;

宋键镗 ;

曹志强 ;

张学莹 ;

李烜 ;

黄继新 .

中国专利 :CN118409119A ,2024-07-30

[6]

一种测试用的高低温探针台 [P].

张子平 ;

封桂英 ;

冯基瑞 .

中国专利 :CN217443487U ,2022-09-16

[7]

高低温探针台测试装置 [P].

肖钊 ;

肖石 ;

汪金文 .

中国专利 :CN212932475U ,2021-04-09

[8]

高低温探针台测试装置 [P].

徐斌 ;

杨盛全 .

中国专利 :CN223679236U ,2025-12-16

[9]

高低温探针台测试装置 [P].

肖钊 ;

肖石 ;

汪金文 .

中国专利 :CN110361419A ,2019-10-22

[10]

一种用于半导体器件的真空高低温测试探针台 [P].

窦上春 .

中国专利 :CN115128310A ,2022-09-30

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