発光測定方法および発光測定システム[ja]

被引：0

申请号：

JP20090545436

申请日：

2008-12-10

公开(公告)号：

JPWO2009075306A1

公开(公告)日：

2011-04-28

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N21/76

IPC分类号：

C12Q1/66

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法律状态信息

共 50 条

[1]

発光測定方法および発光測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP5927251B2 ,2016-06-01

[2]

応力発光測定装置、応力発光測定方法および応力発光測定システム[ja] [P].

日本专利 :JPWO2020261631A1 ,2021-11-18

[3]

応力発光測定装置、応力発光測定方法および応力発光測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP7099634B2 ,2022-07-12

[4]

発光測定装置および発光測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7687667B2 ,2025-06-03

[5]

発熱量測定方法および発熱量測定システム[ja] [P].

NUMAMOTO TATSUHIKO ;

IYODA MAKOTO ;

KIKUCHI FUMITAKA .

日本专利 :JP2024100019A ,2024-07-26

[6]

化学発光測定装置および化学発光測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5635436B2 ,2014-12-03

[7]

発光測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2016189628A1 ,2018-03-08

[8]

測定方法および測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP6739974B2 ,2020-08-12

[9]

測定システム、および、測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7406170B2 ,2023-12-27

[10]

測定システムおよび測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6132097B2 ,2017-05-24

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