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被測定物の特性を測定する方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20110527614
申请日
:
2010-07-21
公开(公告)号
:
JPWO2011021465A1
公开(公告)日
:
2013-01-17
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/01
IPC分类号
:
G01N21/35
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
被測定物の特性を測定する方法および測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011077949A1
,2013-05-02
[2]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015005156A1
,2017-03-02
[3]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012165052A1
,2015-02-23
[4]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014017430A1
,2016-07-11
[5]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014192389A1
,2017-02-23
[6]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5914474B2
,2016-05-11
[7]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5609654B2
,2014-10-22
[8]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5983883B2
,2016-09-06
[9]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6086152B2
,2017-03-01
[10]
被測定対象の特性測定装置及び被測定対象の特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5892623B2
,2016-03-23
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