回路基板の試験治具のピン構造[ja]

被引：0

申请号：

JP20110005267U

申请日：

2011-09-07

公开(公告)号：

JP3171848U

公开(公告)日：

2011-11-17

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/073

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法律状态信息

共 50 条

[1]

回路基板の接続構造および回路基板の接続方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2006126586A1 ,2008-12-25

[2]

回路基板の固定構造およびポンプ装置[ja] [P].

YAZAWA TAKEHIKO ;

YANAGISAWA KAZUHIKO .

日本专利 :JP2024113725A ,2024-08-23

[3]

試験接触子構成の試験接触子を除去するための装置[ja] [P].

日本专利 :JP2018530746A ,2018-10-18

[4]

軸受の試験方法[ja] [P].

日本专利 :JP2022074471A ,2022-05-18

[5]

回路基板のネジ端子台[ja] [P].

SEKI TOSHIHIRO .

日本专利 :JP2024029945A ,2024-03-07

[6]

錠剤の構造[ja] [P].

日本专利 :JP3192332U ,2014-08-07

[7]

ＬＥＤランプの放熱構造[ja] [P].

日本专利 :JP3166388U ,2011-03-03

[8]

コンタクトの接触構造[ja] [P].

日本专利 :JP6547892B1 ,2019-07-24

[9]

端子の接続構造[ja] [P].

NAKANO KATSUYA ;

TANAKA YASUHIRO ;

FUKUNAGA MIYUKI .

日本专利 :JP2025041481A ,2025-03-26

[10]

複合構造の製造方法[ja] [P].

日本专利 :JP2016519431A ,2016-06-30

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