Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20150232740

申请日：

2015-11-30

公开(公告)号：

JP6155538B2

公开(公告)日：

2017-07-05

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N23/205

IPC分类号：

G01N23/20

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法律状态信息

共 50 条

[1]

Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2016152654A1 ,2018-01-11

[2]

Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6361086B1 ,2018-07-25

[3]

Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5958584B1 ,2016-08-02

[4]

Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7523147B2 ,2024-07-26

[5]

Ｘ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5962737B2 ,2016-08-03

[6]

Ｘ線回折測定方法およびＸ線回折測定装置[ja] [P].

OWADA KENJI ;

MACHIDA AKIHIKO ;

OSHIME NORIHIRO ;

SUGAWARA TAKETO ;

WATANUKI TORU .

日本专利 :JP2023169846A ,2023-11-30

[7]

Ｘ線回折装置およびＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5850211B1 ,2016-02-03

[8]

Ｘ線回折装置およびＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5944369B2 ,2016-07-05

[9]

Ｘ線回折装置およびＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7207186B2 ,2023-01-18

[10]

Ｘ線回折装置およびＸ線回折測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2015119056A1 ,2017-03-23

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