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分布量計測方法およびそのための分布量センサを用いた計測システム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20080534320
申请日
:
2007-09-07
公开(公告)号
:
JPWO2008032661A1
公开(公告)日
:
2010-01-28
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01L5/00
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
物理量計測装置および物理量計測装置を用いた物理量の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5905145B1
,2016-04-20
[2]
物理量計測回路を用いた物理量計測方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6273443B2
,2018-02-07
[3]
物理量の統計分布の圧縮測定のための方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2024504246A
,2024-01-31
[4]
物理量計測システム、物理量計測方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6237204B2
,2017-11-29
[5]
光干渉式センサ及びそれを用いた計測システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015012094A1
,2017-03-02
[6]
計測器、及び、計測器用のセンサ[ja]
[P].
日本专利
:JP5810190B1
,2015-11-11
[7]
計数装置、物理量センサ、計数方法および物理量計測方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5663148B2
,2015-02-04
[8]
計数装置、物理量センサ、計数方法および物理量計測方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5798668B2
,2015-10-21
[9]
計数装置、物理量センサ、計数方法および物理量計測方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6018662B2
,2016-11-02
[10]
計数装置、物理量センサ、計数方法および物理量計測方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5718410B2
,2015-05-13
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