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酸化物半導体膜の作製方法及びトランジスタの作製方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200184781
申请日
:
2020-11-05
公开(公告)号
:
JP7101739B2
公开(公告)日
:
2022-07-15
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/336
IPC分类号
:
C23C14/08
C23C14/58
H01L21/20
H01L21/363
H01L29/786
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
酸化物半導体膜の作製方法及びトランジスタの作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023001202A
,2023-01-04
[2]
酸化物半導体膜の作製方法及び半導体装置の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6506340B2
,2019-04-24
[3]
酸化物半導体膜の作製方法及び半導体装置の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6059895B2
,2017-01-11
[4]
酸化物膜の作製方法及び半導体装置の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6377803B2
,2018-08-22
[5]
酸化物半導体膜の作製方法、半導体装置の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6223526B2
,2017-11-01
[6]
酸化物半導体膜の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6126156B2
,2017-05-10
[7]
酸化物半導体膜の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6668455B2
,2020-03-18
[8]
酸化物半導体膜の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6158980B2
,2017-07-05
[9]
酸化物半導体膜の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5916817B2
,2016-05-11
[10]
酸化物半導体膜の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022137143A
,2022-09-21
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