酸化物半導体膜の作製方法及びトランジスタの作製方法[ja]

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申请号
JP20200184781
申请日
2020-11-05
公开(公告)号
JP7101739B2
公开(公告)日
2022-07-15
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L21/336
IPC分类号
C23C14/08 C23C14/58 H01L21/20 H01L21/363 H01L29/786
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
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酸化物半導体膜の作製方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6126156B2 ,2017-05-10
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酸化物半導体膜の作製方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6668455B2 ,2020-03-18
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酸化物半導体膜の作製方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6158980B2 ,2017-07-05
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酸化物半導体膜の作製方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5916817B2 ,2016-05-11
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酸化物半導体膜の作製方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022137143A ,2022-09-21